國產(chǎn)SiC激光剝離技術(shù)突破

作者 | 發(fā)布日期 2026 年 05 月 14 日 14:26 | 分類 碳化硅SiC

近日,國產(chǎn)設(shè)備商中微精儀宣布,已率先實(shí)現(xiàn)8英寸碳化硅激光剝離量產(chǎn)總損耗邁入40μm時(shí)代,打破行業(yè)長期以來60–80μm的損耗瓶頸,為國產(chǎn)大尺寸SiC產(chǎn)業(yè)化提供關(guān)鍵技術(shù)支撐。

圖片來源:中微精儀

當(dāng)前,碳化硅應(yīng)用從新能源汽車、儲(chǔ)能向先進(jìn)封裝、射頻通信等高端領(lǐng)域延伸,8英寸憑借產(chǎn)能與成本優(yōu)勢成為企業(yè)擴(kuò)產(chǎn)主流方向。但碳化硅硬度趨近金剛石,屬硬脆性難加工材料,傳統(tǒng)線切割損耗高達(dá)250μm左右,且易產(chǎn)生微裂紋,效率低、耗材成本高。即便激光剝離逐步替代傳統(tǒng)工藝,業(yè)內(nèi)多數(shù)設(shè)備仍因光路精度不足、能量控制不均等問題,難以突破60μm損耗關(guān)口,無法滿足車規(guī)級(jí)、先進(jìn)封裝的高標(biāo)準(zhǔn)需求。

針對行業(yè)痛點(diǎn),中微精儀深耕激光加工核心技術(shù),完成設(shè)備架構(gòu)、光路調(diào)控、工藝算法全鏈路迭代。通過自研光源、精密光路設(shè)計(jì)及熱效應(yīng)抑制算法,精準(zhǔn)控制激光能量作用深度與加工范圍,抑制材料損傷,最終實(shí)現(xiàn)8英寸SiC量產(chǎn)總損耗穩(wěn)定≤40μm,較行業(yè)主流水平降低30%以上,較傳統(tǒng)線切割降幅達(dá)80%。

在量產(chǎn)價(jià)值上,該技術(shù)可讓400μm晶錠穩(wěn)定產(chǎn)出350μm合格襯底片,無耗材、無化學(xué)試劑的綠色加工模式,既規(guī)避二次污染,又大幅提升晶錠出片量。同時(shí),設(shè)備單片剝離時(shí)長<15分鐘,加工效率較傳統(tǒng)工藝提升20–30倍,支持24小時(shí)不間斷量產(chǎn),良率穩(wěn)定,已通過多家頭部SiC企業(yè)現(xiàn)場驗(yàn)證與小批量導(dǎo)入。

從行業(yè)格局看,此次40μm級(jí)技術(shù)突破,是國產(chǎn)SiC激光剝離裝備從跟跑到領(lǐng)跑的關(guān)鍵跨越。隨著第三代半導(dǎo)體高端需求擴(kuò)容,工藝精細(xì)化、成本極致化將成核心壁壘。中微精儀表示,未來將持續(xù)迭代8寸、12寸量產(chǎn)技術(shù),以自主可控裝備助力國內(nèi)碳化硅產(chǎn)業(yè)降本增效、高端突圍。

(集邦化合物半導(dǎo)體整理)

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